三维X射线扫描(CT)缺陷分析应用范围
时间:2023-01-05 16:19:56 点击次数:0次
三维X射线扫描(CT)采用计算机断层扫描技术,在对被检测物体无损伤的条件下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况。
目的:
确定产品内部可能存在的缺陷的类型、位置以及尺寸。
应用范围:
塑料、陶瓷等复合材料,以及镁、铝和钢原料制成的零件、粘结剂等。
检测步骤:
确认样品类型/材料→放置测量装置中→快速扫描→图像整体透视、任意面剖视→缺陷分析。
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