电子产品温度冲击试验

温度冲击测试可针对电子产品的一种可靠性测试，一般电子产品做的多的是从高温环境突然进入低温环境的测试。电子产品温度冲击试验的意义：对于电子产品来说可以剔除产品的早期故障，实验本身是一个破坏性实验。产品冷热冲击是检验它的性能，但是冲击过程肯定会加速产品老化。温度冲击试验常被称作热冲击试验或者温度循环、高低温冷热冲击试验。温度冲击是指装备周围大气温度的急剧变化，温度变化率大于10度/min，即为温度冲击。

试验前准备

确定试验程序，试件技术状态，温度量值，循环数，温度稳定，持续时间等

试验前技术状态确认

试验前均应在标准大气条件下对试件进行初始检测并记录，以取得某线数据，检测内容主要包括有：

1.外观特别是应力区，如铸件拐角处，不同材料的结合面，如元器件引线与可见的电子元器件的陶瓷界面检查

2.性能和功能检测

1、试验Na：规定转换时间的快速温度变化；空气；

2、试验Nb：规定变化速率的温度变化；空气；

3、试验Nc：两液槽法快速温度变化；液体；

上面3种试验，1、2以空气作为介质，第3种以液体（水或其它液体）作为介质。1、2的转换时间较长，3的转换时间较短。

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