位错密度检测范围
砷化镓晶体，蓝宝石，45钢，硅片，纳米材料，淬火件，冷轧铜，铸钛合金，钛合金，铝合金，
位错密度检测项目
XRD位错密度检测，位错密度测量等。
检测报告有哪些用途?
1、销售使用。
2、研发使用。
3、改善产品质量。
4、科研论文数据使用。
5、质量控制使用。
位错密度检测标准
GB/T 5252-2020锗单晶位错密度的检测方法
GB/T 8760-2006砷化镓单晶位错密度的测量方法
GB/T 32282-2015氮化镓单晶位错密度的测量 阴*荧光显微镜法
GB/T 33763-2017蓝宝石单晶位错密度测量方法
GB/T 34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度的测量方法
SJ/T 10557.3-1994电解电容器用铝箔平均位错密度测量方法
SJ/T 11489-2015低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
SJ/T 11490-2015低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
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