其他冶金产品参数检测报告

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工业硅化学分析方法

第4部分:杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

1范围

本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、钛、镍、铜、铬、钒、镁、钴、磷、钾、钠、铅、锌、硼含量的测定方法。

本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、钛、镍、铜、铬、钒、镁、钴、磷、钾、钠、铅、锌、硼量的测定。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其*新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T 8170—2008数值修约规则与*限数值的表示和判定

检测项目及标准

序号 检测标准 检测对象 检测项目 1 钼的发射光谱分析方法YS/T 558-2009 其他冶金产品参数 镉 2 钼铁化学分析方法GB/T 5059.1-2014 其他冶金产品参数 钼 3 钒氮合金GB/T 20567-2006 其他冶金产品参数 物理状态 4 五氧化二钒 氧化钾、氧化钠含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法YB/T 4220-2010 其他冶金产品参数 氧化钠 5 钼的发射光谱分析方法YS/T 558-2009 其他冶金产品参数 锰 6 钢铁及合金 钼含量的测定GB/T 223.26-2008 其他冶金产品参数 钼 7 工业硅化学分析方法GB/T 14849.4-2008 其他冶金产品参数 镍 8 镍铁 镍含量的测定GBT 21933.1-2008 其他冶金产品参数 镍 9 钒氮合金 硅、锰、磷、铝含量的测定GB/T 24583.8-2009 其他冶金产品参数 锰 10 钒氮合金 硅、锰、磷、铝含量的测定GB/T 24583.8-2009 其他冶金产品参数 磷

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